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上海北臻电子取得微电子元器件老化试验插座专利，实现电子元器件快速放入老化箱并保证检测过程中的稳定性:电子器件
国家知识产权局信息显示，上海北臻电子科技有限公司取得一项名为“一种微电子元器件老化试验插座”的专利，授权公告号CN223597715U，申请日期为2024年11月电子器件。专利摘要显示，本实用新型公
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国家知识产权局信息显示，上海北臻电子科技有限公司取得一项名为“一种微电子元器件老化试验插座”的专利，授权公告号CN223597715U，申请日期为2024年11月电子器件。专利摘要显示，本实用新型公