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长迈半导体取得一种整流装置及老化测试设备专利，能够适用于不同老化测试设备的风道中:半导体
国家知识产权局信息显示，长迈半导体（成都）有限公司取得一项名为“一种整流装置及老化测试设备”的专利，授权公告号CN223596338U，申请日期为2024年12月半导体。专利摘要显示，本实用新型属
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国家知识产权局信息显示，长迈半导体（成都）有限公司取得一项名为“一种整流装置及老化测试设备”的专利，授权公告号CN223596338U，申请日期为2024年12月半导体。专利摘要显示，本实用新型属