金融界2025年8月19日消息，国家知识产权局信息显示，泰克诺探头公司申请一项名为“用于电子器件测试设备的探针卡”的专利，公开号CN120513394A，申请日期为2023年12月电子器件。
专利摘要显示，本申请公开了一种配置为安装在电子器件测试设备中的探针卡（20），所述探针卡（20）包括至少一个探针头（21），所述探针头（21）容纳多个接触探针（22），每个接触探针（22）具有至少一个第一端部（22A），所述第一端部（22A）配置为与被测器件（23）的接触垫（23A）相抵接，探针卡还包括主板（27）和与主板（27）连接的中间板，所述中间板适于在其相对的面上形成的接触垫之间进行距离空间变换，并充当空间变换器（30）电子器件。适当地，所述空间变换器（30）包括至少一个由热导率大于100W/（m•K）的材料制成的芯（30C），用于收集和散发电子器件（23）测试操作期间探针卡（20）产生的热量。
来源：金融界